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Journal of applied physics, 1977-01, Vol.48 (6), p.2628-2629
1977
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Optical thickness measurement of very thin films with a Fabry-Perot interferometer
Ist Teil von
  • Journal of applied physics, 1977-01, Vol.48 (6), p.2628-2629
Erscheinungsjahr
1977
Quelle
AIP Journals Complete
Beschreibungen/Notizen
  • It is proposed here that the Fabry-Perot interferometer be used for optical thickness measurements of very thin (<100 Å) dielectric films and membranes. It is also pointed out that a Fabry-Perot might be able to detect the small change in the refractive index of a live axon during the passage of an action potential in biophysical studies.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0021-8979
eISSN: 1089-7550
DOI: 10.1063/1.323987
Titel-ID: cdi_proquest_miscellaneous_22925259
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