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Concentrated Ar Ion Milling for Aberration - Corrected Electron Microscopy: A Review
Microscopy and microanalysis, 2011-07, Vol.17 (S2), p.632-633
Cerchiara, R
Fischione, P
Liu, J
Matesa, J
Robins, A
2011
Volltextzugriff (PDF)
Details
Autor(en) / Beteiligte
Cerchiara, R
Fischione, P
Liu, J
Matesa, J
Robins, A
Titel
Concentrated Ar Ion Milling for Aberration - Corrected Electron Microscopy: A Review
Ist Teil von
Microscopy and microanalysis, 2011-07, Vol.17 (S2), p.632-633
Ort / Verlag
New York, USA: Cambridge University Press
Erscheinungsjahr
2011
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Beschreibungen/Notizen
Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2011 in Nashville, Tennessee, USA, August 7–August 11, 2011.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1431-9276
eISSN: 1435-8115
DOI: 10.1017/S143192761100403X
Titel-ID: cdi_proquest_journals_896616081
Format
–
Schlagworte
Focused Ion Beam
,
Instrumentation and Techniques
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