Microscopy and microanalysis, 2008-08, Vol.14 (S2), p.892-893
2008
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Details
- Autor(en) / Beteiligte
- Titel
- SEM Remote Control with a 3D Option
- Ist Teil von
- Microscopy and microanalysis, 2008-08, Vol.14 (S2), p.892-893
- Ort / Verlag
- New York, USA: Cambridge University Press
- Erscheinungsjahr
- 2008
- Quelle
- Alma/SFX Local Collection
- Beschreibungen/Notizen
- Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2008 in Albuquerque, New Mexico, USA, August 3 – August 7, 2008
- Sprache
- Englisch
- Identifikatoren
- ISSN: 1431-9276eISSN: 1435-8115DOI: 10.1017/S1431927608087928Titel-ID: cdi_proquest_journals_521463271
- Format
- –
- Schlagworte
- Remote control, Teaching Microscopy and Microanalysis