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Identifying Possible Two-Level-System Sources in Superconducting Qubit with Advanced Electron Microscopy
Microscopy and microanalysis, 2022-08, Vol.28 (S1), p.1716-1717
Zhou, Lin
Oh, Jin-Su
Fang, Xiaotian
Kim, Tae-Hoon
Kramer, Matt
Romanenko, A.
Posen, S.
Grassellino, A.
Kopas, Cameron J.
Field, Mark
Marshall, Jayss
Mutus, Joshua Y.
Cansizoglu, Hilal
Reagor, Matthew
2022
Volltextzugriff (PDF)
Details
Autor(en) / Beteiligte
Zhou, Lin
Oh, Jin-Su
Fang, Xiaotian
Kim, Tae-Hoon
Kramer, Matt
Romanenko, A.
Posen, S.
Grassellino, A.
Kopas, Cameron J.
Field, Mark
Marshall, Jayss
Mutus, Joshua Y.
Cansizoglu, Hilal
Reagor, Matthew
Titel
Identifying Possible Two-Level-System Sources in Superconducting Qubit with Advanced Electron Microscopy
Ist Teil von
Microscopy and microanalysis, 2022-08, Vol.28 (S1), p.1716-1717
Ort / Verlag
New York, USA: Cambridge University Press
Erscheinungsjahr
2022
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1431-9276
eISSN: 1435-8115
DOI: 10.1017/S1431927622006808
Titel-ID: cdi_proquest_journals_2692655792
Format
–
Schlagworte
Electron microscopy
,
Physical Sciences Symposia
,
Quantum Materials Under Electron Beam: From Atomic Structures to Working Devices
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