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Electron Counted STEM-EELS Spectroscopy Optimized for low kV (< 80 kV) via Hybrid Pixel Detection
Microscopy and microanalysis, 2022-08, Vol.28 (S1), p.2226-2228
2022
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Electron Counted STEM-EELS Spectroscopy Optimized for low kV (< 80 kV) via Hybrid Pixel Detection
Ist Teil von
  • Microscopy and microanalysis, 2022-08, Vol.28 (S1), p.2226-2228
Ort / Verlag
New York, USA: Cambridge University Press
Erscheinungsjahr
2022
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1431-9276
eISSN: 1435-8115
DOI: 10.1017/S1431927622008583
Titel-ID: cdi_proquest_journals_2692529218
Format
–
Schlagworte
Electron Microscopy of Beam Sensitive Samples: The Trials and Tribulations of Electron-beam Sample Interactions, Physical Sciences Symposia, Spectroscopy

Weiterführende Literatur

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