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Post-FIB Specimen Preparation of Atom Probe Specimens under Controlled Environments for Correlative Microscopy
Microscopy and microanalysis, 2019-08, Vol.25 (S2), p.2554-2555
2019

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Post-FIB Specimen Preparation of Atom Probe Specimens under Controlled Environments for Correlative Microscopy
Ist Teil von
  • Microscopy and microanalysis, 2019-08, Vol.25 (S2), p.2554-2555
Ort / Verlag
New York, USA: Cambridge University Press
Erscheinungsjahr
2019
Link zum Volltext
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1431-9276
eISSN: 1435-8115
DOI: 10.1017/S1431927619013503
Titel-ID: cdi_proquest_journals_2595830000
Format
–
Schlagworte
New Frontiers in Atom Probe Tomography Applications, Physical Science Symposia, Specimen preparation

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