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Investigation of the temperature effect on the dynamic parameters of ultrafast silicon carbide current switches
Ist Teil von
Journal of physics. Conference series, 2018-06, Vol.1038 (1), p.12036
Ort / Verlag
Bristol: IOP Publishing
Erscheinungsjahr
2018
Link zum Volltext
Quelle
EZB Electronic Journals Library
Beschreibungen/Notizen
The results of a theoretical and experimental study of temperature effect on a switching process of a 4H-SiC drift step recovery diode are presented. The effect of the injected charge losses lowering at high temperatures is demonstrated.