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Correcting STEM distortions in atomically resolved elemental maps
Microscopy and microanalysis, 2021-08, Vol.27 (S1), p.596-598
Potapov, Pavel
Lubk, Axel
Kamp, Martin
Stuebinger, Martin
Claessen, Ralph
Sing, Michael
2021
Volltextzugriff (PDF)
Details
Autor(en) / Beteiligte
Potapov, Pavel
Lubk, Axel
Kamp, Martin
Stuebinger, Martin
Claessen, Ralph
Sing, Michael
Titel
Correcting STEM distortions in atomically resolved elemental maps
Ist Teil von
Microscopy and microanalysis, 2021-08, Vol.27 (S1), p.596-598
Ort / Verlag
New York, USA: Cambridge University Press
Erscheinungsjahr
2021
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1431-9276
eISSN: 1435-8115
DOI: 10.1017/S1431927621002555
Titel-ID: cdi_proquest_journals_2556259147
Format
–
Schlagworte
Advanced Imaging and Spectroscopy for Nanoscale Materials Characterization
,
Physical Sciences Symposia
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