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Estimating illumination coherence width from focused-probe intensity profiles
Microscopy and microanalysis, 2021-08, Vol.27 (S1), p.738-740
2021

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Estimating illumination coherence width from focused-probe intensity profiles
Ist Teil von
  • Microscopy and microanalysis, 2021-08, Vol.27 (S1), p.738-740
Ort / Verlag
New York, USA: Cambridge University Press
Erscheinungsjahr
2021
Link zum Volltext
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1431-9276
eISSN: 1435-8115
DOI: 10.1017/S1431927621002981
Titel-ID: cdi_proquest_journals_2556256674
Format
–
Schlagworte
Aperture, Microscopy, Nanoscale x-ray and Electron Microscopy Techniques and Applications in Material Science, Physical Sciences Symposia, Standard deviation

Weiterführende Literatur

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