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First performance measurements and application results of a new high brightness Schottky field emitter for HR-S/TEM at 80-300kV acceleration voltage
Microscopy and microanalysis, 2008-08, Vol.14 (S2), p.1370-1371
Freitag, B
Knippels, G
Kujawa, S
Stam, M van der
Hubert, D
Tiemeijer, PC
Kisielowski, C
Denes, P
Minor, A
Dahmen, U
2008
Volltextzugriff (PDF)
Details
Autor(en) / Beteiligte
Freitag, B
Knippels, G
Kujawa, S
Stam, M van der
Hubert, D
Tiemeijer, PC
Kisielowski, C
Denes, P
Minor, A
Dahmen, U
Titel
First performance measurements and application results of a new high brightness Schottky field emitter for HR-S/TEM at 80-300kV acceleration voltage
Ist Teil von
Microscopy and microanalysis, 2008-08, Vol.14 (S2), p.1370-1371
Ort / Verlag
New York, USA: Cambridge University Press
Erscheinungsjahr
2008
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Beschreibungen/Notizen
Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2008 in Albuquerque, New Mexico, USA, August 3 – August 7, 2008
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1431-9276
eISSN: 1435-8115
DOI: 10.1017/S1431927608087370
Titel-ID: cdi_proquest_journals_220319526
Format
–
Schlagworte
Analytical Electron Microscopy: Advanced Techniques and Applications for Nanoscience
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