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Secondary ion mission from perfluorinated polyethers using megaelectronvolt and kiloelectronvolt ion bombardment
Ist Teil von
Analytical chemistry (Washington), 1993-08, Vol.65 (15), p.1947
Ort / Verlag
Washington: American Chemical Society
Erscheinungsjahr
1993
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Beschreibungen/Notizen
Time-of-flight secondary ion mass spectrometry and plasma desorption mass spectrometry were used to examine the secondary ion emission from perfluorinated polyethers having average molecular weights between 3,800-10,800.