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Technometrics, 2003-11, Vol.45 (4), p.333-339
2003
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Confidence Regions Around the Ridge of Optimal Response on Fitted Second-Order Response Surfaces
Ist Teil von
  • Technometrics, 2003-11, Vol.45 (4), p.333-339
Ort / Verlag
Alexandria: Taylor & Francis
Erscheinungsjahr
2003
Quelle
Taylor & Francis
Beschreibungen/Notizen
  • Ridge analysis is a technique useful in connection with the fitting of second-order response surfaces. It enables a path of maximum predicted ŷ values (maximum on a sphere of radius R) to be specified, and followed out from the origin of the experimental region, as R increases. (Alternatively, a minimum ŷ path can be followed out.) This article discusses the addition of a measure of uncertainty to the selected path, thus providing an assessment of the reliability of the ridge analysis as a path progresses. The utility of this method is illustrated by applications to two datasets.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0040-1706
eISSN: 1537-2723
DOI: 10.1198/004017003000000159
Titel-ID: cdi_proquest_journals_213701170

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