Microscopy and microanalysis, 2002-08, Vol.8 (S02), p.672-673
2002
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Details
- Autor(en) / Beteiligte
- Titel
- A Comparison of Grain Size Measurements in Al-Cu Thin Films: Imaging verses Diffraction Techniques
- Ist Teil von
- Microscopy and microanalysis, 2002-08, Vol.8 (S02), p.672-673
- Ort / Verlag
- New York, USA: Cambridge University Press
- Erscheinungsjahr
- 2002
- Quelle
- Alma/SFX Local Collection
- Sprache
- Englisch
- Identifikatoren
- ISSN: 1431-9276eISSN: 1435-8115DOI: 10.1017/S1431927602106362Titel-ID: cdi_proquest_journals_2118768403
- Format
- –
- Schlagworte
- Aluminum, Copper, Thin films