Microscopy and microanalysis, 2013-08, Vol.19 (S2), p.1072-1073
2013
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Details
- Autor(en) / Beteiligte
- Titel
- Focused Electron Beam and Elemental Mapping of Palm-top EPMA (Scanning) Equipped with CL Spectrometer (Projection)
- Ist Teil von
- Microscopy and microanalysis, 2013-08, Vol.19 (S2), p.1072-1073
- Ort / Verlag
- New York, USA: Cambridge University Press
- Erscheinungsjahr
- 2013
- Quelle
- Alma/SFX Local Collection
- Beschreibungen/Notizen
- Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2013 in Indianapolis, Indiana, USA, August 4 – August 8, 2013.
- Sprache
- Englisch
- Identifikatoren
- ISSN: 1431-9276eISSN: 1435-8115DOI: 10.1017/S1431927613007356Titel-ID: cdi_proquest_journals_2118761179