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TOF-SIMS Analysis with High Lateral and High Mass Resolution in Parallel
Microscopy and microanalysis, 2018-08, Vol.24 (S1), p.1026-1027
Kollmer, Felix
Havercroft, Nathan
Henss, Anja
Arlinghaus, Henrik
Paul, Wolfgang
Moellers, Rudolf
Niehuis, Ewald
2018
Volltextzugriff (PDF)
Details
Autor(en) / Beteiligte
Kollmer, Felix
Havercroft, Nathan
Henss, Anja
Arlinghaus, Henrik
Paul, Wolfgang
Moellers, Rudolf
Niehuis, Ewald
Titel
TOF-SIMS Analysis with High Lateral and High Mass Resolution in Parallel
Ist Teil von
Microscopy and microanalysis, 2018-08, Vol.24 (S1), p.1026-1027
Ort / Verlag
New York, USA: Cambridge University Press
Erscheinungsjahr
2018
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1431-9276
eISSN: 1435-8115
DOI: 10.1017/S1431927618005627
Titel-ID: cdi_proquest_journals_2117238462
Format
–
Schlagworte
Analytical and Instrumentation Science Symposia
,
Surface and Subsurface Microscopy and Microanalysis
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