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Microscopy and microanalysis, 2010-07, Vol.16 (S2), p.1566-1567
2010
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Aberration-Corrected Electron Microscopy Studies of Novel Nanostructures in Highly Aligned Nano-twinned Metals
Ist Teil von
  • Microscopy and microanalysis, 2010-07, Vol.16 (S2), p.1566-1567
Ort / Verlag
New York, USA: Cambridge University Press
Erscheinungsjahr
2010
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Beschreibungen/Notizen
  • Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2010 in Portland, Oregon, USA, August 1 – August 5, 2010.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1431-9276
eISSN: 1435-8115
DOI: 10.1017/S1431927610058344
Titel-ID: cdi_proquest_journals_2117227584

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