UNIVERSI
TÄ
TS-
BIBLIOTHEK
P
ADERBORN
Anmelden
Menü
Menü
Start
Hilfe
Blog
Weitere Dienste
Neuerwerbungslisten
Fachsystematik Bücher
Erwerbungsvorschlag
Bestellung aus dem Magazin
Fernleihe
Einstellungen
Sprache
Deutsch
Deutsch
Englisch
Farbschema
Hell
Dunkel
Automatisch
Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist
gegebenenfalls
nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich.
mehr Informationen...
Universitätsbibliothek
Katalog
Suche
Details
Zur Ergebnisliste
Ergebnis 22 von 73
Datensatz exportieren als...
BibTeX
Aberration-Corrected Electron Microscopy Studies of Novel Nanostructures in Highly Aligned Nano-twinned Metals
Microscopy and microanalysis, 2010-07, Vol.16 (S2), p.1566-1567
Yoshida, K
Shute, C
Boyes, ED
Gai, PL
Weertman, JR
2010
Volltextzugriff (PDF)
Details
Autor(en) / Beteiligte
Yoshida, K
Shute, C
Boyes, ED
Gai, PL
Weertman, JR
Titel
Aberration-Corrected Electron Microscopy Studies of Novel Nanostructures in Highly Aligned Nano-twinned Metals
Ist Teil von
Microscopy and microanalysis, 2010-07, Vol.16 (S2), p.1566-1567
Ort / Verlag
New York, USA: Cambridge University Press
Erscheinungsjahr
2010
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Beschreibungen/Notizen
Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2010 in Portland, Oregon, USA, August 1 – August 5, 2010.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1431-9276
eISSN: 1435-8115
DOI: 10.1017/S1431927610058344
Titel-ID: cdi_proquest_journals_2117227584
Format
–
Schlagworte
Electron microscopy
,
Imaging and Spectroscopy of Interfaces and Surfaces in Advanced Materials and Nanostructures
,
Metals
,
Microscopy
,
Physical Sciences Symposia
Weiterführende Literatur
Empfehlungen zum selben Thema automatisch vorgeschlagen von
bX