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Nanoscale Strain and Composition Mapping in Ionic Thin Film Heterostructures for Resistive Switching Devices
Microscopy and microanalysis, 2016-07, Vol.22 (S3), p.518-519
2016
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Nanoscale Strain and Composition Mapping in Ionic Thin Film Heterostructures for Resistive Switching Devices
Ist Teil von
  • Microscopy and microanalysis, 2016-07, Vol.22 (S3), p.518-519
Ort / Verlag
New York, USA: Cambridge University Press
Erscheinungsjahr
2016
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1431-9276
eISSN: 1435-8115
DOI: 10.1017/S1431927616003445
Titel-ID: cdi_proquest_journals_1871242079
Format
–
Schlagworte
Advanced Scanning Diffraction: Mapping Functionality in Reciprocal Space at Nanometer Resolution, Analytical and Instrumentation Science Symposia, Electrons, Interfaces, Thin films

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