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A Review of Recent Developments in Low Energy Ion Scattering (LEIS) and Its Applications
Microscopy and microanalysis, 2016-07, Vol.22 (S3), p.358-359
2016

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
A Review of Recent Developments in Low Energy Ion Scattering (LEIS) and Its Applications
Ist Teil von
  • Microscopy and microanalysis, 2016-07, Vol.22 (S3), p.358-359
Ort / Verlag
New York, USA: Cambridge University Press
Erscheinungsjahr
2016
Link zum Volltext
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1431-9276
eISSN: 1435-8115
DOI: 10.1017/S1431927616002646
Titel-ID: cdi_proquest_journals_1871187231
Format
–
Schlagworte
Analytical and Instrumentation Science Symposia, Surface and Subsurface Microscopy and Analysis

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