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In-Situ TOF-SIMS and SFM Measurements Providing True 3D Chemical Characterization of Inorganic and Organic Nanostructures
Microscopy and microanalysis, 2014-08, Vol.20 (S3), p.2086-2087
2014
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
In-Situ TOF-SIMS and SFM Measurements Providing True 3D Chemical Characterization of Inorganic and Organic Nanostructures
Ist Teil von
  • Microscopy and microanalysis, 2014-08, Vol.20 (S3), p.2086-2087
Ort / Verlag
New York, USA: Cambridge University Press
Erscheinungsjahr
2014
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1431-9276
eISSN: 1435-8115
DOI: 10.1017/S1431927614012161
Titel-ID: cdi_proquest_journals_1855674638
Format
–
Schlagworte
Physical Sciences Symposia, Surface & Subsurface Microscopy & Microanalysis in Materials & Biological Systems

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