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Dynamic Specification Testing and Diagnosis of High-Precision Sigma-Delta ADCs
IEEE design and test, 2013-08, Vol.30 (4), p.36-48
2013

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Dynamic Specification Testing and Diagnosis of High-Precision Sigma-Delta ADCs
Ist Teil von
  • IEEE design and test, 2013-08, Vol.30 (4), p.36-48
Ort / Verlag
Piscataway: IEEE Computer Society
Erscheinungsjahr
2013
Link zum Volltext
Quelle
IEEE Electronic Library (IEL)
Beschreibungen/Notizen
  • High-resolution ADCs generally require high-end testers to ensure their performances meeting design specifications. This paper presents new test methods that facilitate to test such devices with low-cost testers.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 2168-2356
eISSN: 2168-2364
DOI: 10.1109/MDT.2012.2217111
Titel-ID: cdi_proquest_journals_1449927934
Format
–
Schlagworte
alternate test, Analog-to-Digital converters (ADCs), built-in-self-test (BIST), Computational modeling, design-for-test (DfT), device under test (DUT), dynamic specifications test, fast Fourier transform (FFT), Mathematical model, Noise measurement, Sigma-delta (ÄÓ), Sigma-delta modulation, Signal to noise ratio, Testing

Weiterführende Literatur

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