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Atomically controlled chemical polishing of GaN using platinum and hydrofluoric acid
Physica status solidi. C, 2012-03, Vol.9 (3-4), p.433-435
Sadakuni, Shun
Murata, Junji
Sano, Yasuhisa
Yagi, Keita
Okamoto, Takeshi
Tachibana, Kazuma
Asano, Hiroya
Yamauchi, Kazuto
2012
Details
Autor(en) / Beteiligte
Sadakuni, Shun
Murata, Junji
Sano, Yasuhisa
Yagi, Keita
Okamoto, Takeshi
Tachibana, Kazuma
Asano, Hiroya
Yamauchi, Kazuto
Titel
Atomically controlled chemical polishing of GaN using platinum and hydrofluoric acid
Ist Teil von
Physica status solidi. C, 2012-03, Vol.9 (3-4), p.433-435
Ort / Verlag
Berlin: WILEY-VCH Verlag
Erscheinungsjahr
2012
Link zum Volltext
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Beschreibungen/Notizen
We have developed a novel planarization method called catalyst‐referred etching (CARE), which utilizes platinum as a catalyst that is immersed in hydrofluoric (HF) acid solution. In this process, chemical etching occurs only near the surface of a platinum plate that has a flat surface. The protrusions on a GaN substrate that is in contact with the surface of the catalyst plate are the only parts that are removed by the platinum and HF solution. The surface is therefore flattened without damaging the crystal. Morphological characterization showed that CARE produced smooth surfaces with single bilayer atomic terracing throughout the substrate. Cross‐sectional transmission electron microscope observations revealed that the surface was atomically flat with no subsurface damage (© 2012 WILEY‐VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim)
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1862-6351
eISSN: 1610-1642
DOI: 10.1002/pssc.201100406
Titel-ID: cdi_proquest_journals_1345948128
Format
–
Schlagworte
catalyst
,
CMP
,
planarization
,
steps-and-terraces structure
Weiterführende Literatur
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