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A large VDS data retention test pattern for DRAM's
IEEE journal of solid-state circuits, 1992-08, Vol.27 (8), p.1214-1217
1992
Volltextzugriff (PDF)

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
A large VDS data retention test pattern for DRAM's
Ist Teil von
  • IEEE journal of solid-state circuits, 1992-08, Vol.27 (8), p.1214-1217
Ort / Verlag
New York, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Erscheinungsjahr
1992
Quelle
IEEE Xplore Digital Library
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0018-9200
eISSN: 1558-173X
DOI: 10.1109/4.148333
Titel-ID: cdi_pascalfrancis_primary_5549948
Format
–
Schlagworte
Applied sciences, Electronics, Exact sciences and technology, Integrated circuits, Integrated circuits by function (including memories and processors), Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices

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