UNIVERSI
TÄ
TS-
BIBLIOTHEK
P
ADERBORN
Anmelden
Menü
Menü
Start
Hilfe
Blog
Weitere Dienste
Neuerwerbungslisten
Fachsystematik Bücher
Erwerbungsvorschlag
Bestellung aus dem Magazin
Fernleihe
Einstellungen
Sprache
Deutsch
Deutsch
Englisch
Farbschema
Hell
Dunkel
Automatisch
Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist
gegebenenfalls
nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich.
mehr Informationen...
Universitätsbibliothek
Katalog
Suche
Details
Zur Ergebnisliste
Ergebnis 1 von 50
Datensatz exportieren als...
BibTeX
1997 ICAM/E-MRS Spring Conference, Symposium C: Recent Developments in Electron Microscopy and X-Ray Diffraction of Thin Films Structures
Thin solid films, 1998, Vol.319 (1-2)
ROCHER, A. M
CULLIS, A. G
KURODA, K
RANGANATHAN, S
1998
Volltextzugriff (PDF)
Details
Autor(en) / Beteiligte
ROCHER, A. M
CULLIS, A. G
KURODA, K
RANGANATHAN, S
Titel
1997 ICAM/E-MRS Spring Conference, Symposium C: Recent Developments in Electron Microscopy and X-Ray Diffraction of Thin Films Structures
Ist Teil von
Thin solid films, 1998, Vol.319 (1-2)
Ort / Verlag
Lausanne: Elsevier Science
Erscheinungsjahr
1998
Quelle
Elsevier Journal Backfiles on ScienceDirect (DFG Nationallizenzen)
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0040-6090
eISSN: 1879-2731
Titel-ID: cdi_pascalfrancis_primary_417864
Format
–
Schlagworte
Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties
,
Electron, ion, and scanning probe microscopy
,
Exact sciences and technology
,
Low-dimensional structures (superlattices, quantum well structures, multilayers): structure, and nonelectronic properties
,
Physics
,
Structure and morphology
,
thickness
,
Structure of solids and liquids
,
crystallography
,
Surfaces and interfaces
,
thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties)
,
Thin film structure and morphology
,
X-ray diffraction and scattering
Weiterführende Literatur
Empfehlungen zum selben Thema automatisch vorgeschlagen von
bX