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Characterization of defects in undoped non c-plane and high resistance GaN layers dominated by stacking faults
Physica. B, Condensed matter, 2009, Vol.404 (23-24), p.4922-4924
2009

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Characterization of defects in undoped non c-plane and high resistance GaN layers dominated by stacking faults
Ist Teil von
  • Physica. B, Condensed matter, 2009, Vol.404 (23-24), p.4922-4924
Ort / Verlag
Kidlington: Elsevier
Erscheinungsjahr
2009
Link zum Volltext
Quelle
Elsevier ScienceDirect Journals Complete
Sprache
Russisch
Identifikatoren
ISSN: 0921-4526
eISSN: 1873-2135
Titel-ID: cdi_pascalfrancis_primary_22310378
Format
–

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