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TEM analysis of the interfacial defects in the superconducting C-doped MgBz wires
Physica. C. Superconductivity, 2008, Vol.468 (15-20), p.1836-1839
2008

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
TEM analysis of the interfacial defects in the superconducting C-doped MgBz wires
Ist Teil von
  • Physica. C. Superconductivity, 2008, Vol.468 (15-20), p.1836-1839
Ort / Verlag
Amsterdam: Elsevier Science
Erscheinungsjahr
2008
Link zum Volltext
Quelle
Elsevier ScienceDirect Journals
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0921-4534
eISSN: 1873-2143
Titel-ID: cdi_pascalfrancis_primary_20690492
Format
–
Schlagworte
Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties, Effects of crystal defects, doping and substitution, Exact sciences and technology, Physics, Superconductivity, Transition temperature variations

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