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Observation of topography inversion in atomic force microscopy of self-assembled monolayers
Nanotechnology, 1999-12, Vol.10 (4), p.399-404
1999
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Observation of topography inversion in atomic force microscopy of self-assembled monolayers
Ist Teil von
  • Nanotechnology, 1999-12, Vol.10 (4), p.399-404
Ort / Verlag
Bristol: IOP Publishing
Erscheinungsjahr
1999
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0957-4484
eISSN: 1361-6528
DOI: 10.1088/0957-4484/10/4/307
Titel-ID: cdi_pascalfrancis_primary_1324955
Format
–
Schlagworte
Atomic force microscopes, Exact sciences and technology, Instruments, apparatus, components and techniques common to several branches of physics and astronomy, Physics, Scanning probe microscopes, components and techniques

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