Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Ergebnis 19 von 35
Soft X-ray FEL simulation in PAL-XFEL
Journal of the Korean Physical Society, 2015, 67(8), , pp.1301-1308
2015
Volltextzugriff (PDF)

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Soft X-ray FEL simulation in PAL-XFEL
Ist Teil von
  • Journal of the Korean Physical Society, 2015, 67(8), , pp.1301-1308
Ort / Verlag
Seoul: The Korean Physical Society
Erscheinungsjahr
2015
Quelle
SpringerLink
Beschreibungen/Notizen
  • The soft X-ray beamline in the Pohang Accelerator Laboratory X-ray Free Electron Laser (PAL-XFEL) will provide a photon beam with a wavelength from 1 nm to 3 nm in the self-amplified spontaneous emission (SASE) mode by using an electron beam with a 3.15-GeV beam energy. Linearly polarized radiation will be supplied by using six planar undulators (PUs). The linearly-polarized radiation powers at 1 (3) nm can reach 10.2 (30) GW. Polarization of the radiation will be controlled by applying the reverse undulator tapering scheme to the PUs and adding two helical undulators (HUs). The circularly-polarized radiation powers at 1 (3) nm will be 3.11 (11.73) GW. The degrees of circular polarization will be larger than 0.99 for both wavelengths. Three options for the future upgrade of the beamline to increase the radiation power are proposed.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0374-4884
eISSN: 1976-8524
DOI: 10.3938/jkps.67.1301
Titel-ID: cdi_nrf_kci_oai_kci_go_kr_ARTI_105812

Weiterführende Literatur

Empfehlungen zum selben Thema automatisch vorgeschlagen von bX