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BibTeX
Radiation Evaluation of the DP83561-SP Radiation Hardened 10/100/1000 Ethernet PHY Transceiver with SEFI Handling Sub-System
2022 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) (in conjunction with 2022 NSREC), 2022, p.1-3
Gooty, R.
Modi, G.
Williams, S.
Kruckmeyer, K.
Salomon, V.
Boldrin, D.
2022
Volltextzugriff (PDF)
Details
Autor(en) / Beteiligte
Gooty, R.
Modi, G.
Williams, S.
Kruckmeyer, K.
Salomon, V.
Boldrin, D.
Titel
Radiation Evaluation of the DP83561-SP Radiation Hardened 10/100/1000 Ethernet PHY Transceiver with SEFI Handling Sub-System
Ist Teil von
2022 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) (in conjunction with 2022 NSREC), 2022, p.1-3
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
2022
Quelle
IEEE Electronic Library (IEL)
Beschreibungen/Notizen
High reliability gigabit ethernet PHY designed for the high-radiation environment with SEFI handling Sub-System radiation effects are evaluated.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
eISSN: 2154-0535
DOI: 10.1109/REDW56037.2022.9921702
Titel-ID: cdi_ieee_primary_9921702
Format
–
Schlagworte
Conferences
,
Ethernet
,
heavy ion testing
,
Ions
,
Radiation effects
,
Radiation hardening (electronics)
,
Reliability engineering
,
single event effects
,
Transceivers
Weiterführende Literatur
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