Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Ergebnis 7 von 42
2013 25th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD), 2013, p.335-338
2013
Volltextzugriff (PDF)

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Inherently soft free-wheeling diode for high temperature operation
Ist Teil von
  • 2013 25th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD), 2013, p.335-338
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
2013
Quelle
IEEE/IET Electronic Library (IEL)
Beschreibungen/Notizen
  • Traditionally, the major driver in IGBT and diode development is to minimize the static and dynamic losses. A significant reduction of the n-base thickness would yield this, however it can also jeopardize the switching characteristic leading to high overshoot voltages during diode reverse recovery. In this paper, we present an improved Field-Charge Extraction (FCE) concept that is achieving a soft reverse recovery behavior inherently. The new design allows for a 10% reduction of the thickness of the diode's n-base, while still maintaining the blocking capability and the softness of the conventional diode. Therefore, the technology curve and the ruggedness are improved significantly.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 9781467351348, 1467351342
ISSN: 1063-6854
eISSN: 1946-0201
DOI: 10.1109/ISPSD.2013.6694416
Titel-ID: cdi_ieee_primary_6694416

Weiterführende Literatur

Empfehlungen zum selben Thema automatisch vorgeschlagen von bX