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Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, 1998, p.1-7
1998

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Transient Adaptive Thermal Simulation of Microwave Integrated Circuits
Ist Teil von
  • Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, 1998, p.1-7
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
1998
Link zum Volltext
Quelle
IEEE Xplore
Beschreibungen/Notizen
  • Integrated circuits with sub-micron features require complicated three-dimensional modeling including multiple materials and temperature-dependent thermal conductivity. A transient multiple-grid solution technique is presented which adaptively handles the large spatial and temporal scale ranges associated with integrated circuit modeling. Transient thermal modeling computational requirements are reduced by two orders of magnitude by the development and application of a transient multiple-grid solution technique. Experimental validation testing confirms the need for fast and accurate thermal simulation tools.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 9780780344860, 0780344863
ISSN: 1065-2221
eISSN: 2577-1000
DOI: 10.1109/STHERM.1998.660380
Titel-ID: cdi_ieee_primary_660380

Weiterführende Literatur

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