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2013 International Symposium onVLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT), 2013, p.1-4
2013

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
A 0.3 V low-power temperature-insensitive ring oscillator in 90 nm CMOS process
Ist Teil von
  • 2013 International Symposium onVLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT), 2013, p.1-4
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
2013
Link zum Volltext
Quelle
IEL
Beschreibungen/Notizen
  • A low-power temperature-insensitive ring oscillator under a 0.3 V supply has been presented in this paper. A bootstrapping technique is proposed to compensate the temperature coefficient at near-threshold supply by generating a boosted voltage. As compared with conventional ring oscillators, the proposed one provides 1.1% over a temperature range from 0 to 125 °C without any trimming. The chip is fabricated in 90 nm 1P9M SPRVT CMOS process. The active core area is only 31.5μm×61.5μm. The proposed oscillator operates 235 MHz with a supply voltage of 0.3 V and has a power consumption of 7 μW at 25 °C.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 1467344354, 9781467344357
DOI: 10.1109/VLDI-DAT.2013.6533838
Titel-ID: cdi_ieee_primary_6533838

Weiterführende Literatur

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