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International Electron Devices Meeting. IEDM Technical Digest, 1997, p.167-169
1997
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Room temperature silicon single-electron quantum-dot transistor switch
Ist Teil von
  • International Electron Devices Meeting. IEDM Technical Digest, 1997, p.167-169
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
1997
Quelle
IEEE/IET Electronic Library
Beschreibungen/Notizen
  • We fabricated a silicon single-electron quantum-dot transistor, which showed drain current oscillations at room temperature. Analysis of its I-V characteristic indicates that the energy level separation is about 110 meV and the silicon dot size is about 12 nm.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 9780780341005, 0780341007
ISSN: 0163-1918
eISSN: 2156-017X
DOI: 10.1109/IEDM.1997.650296
Titel-ID: cdi_ieee_primary_650296

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