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2013 26th International Conference on VLSI Design and 2013 12th International Conference on Embedded Systems, 2013, p.136-141
2013
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
A Sub-1V 32nA Process, Voltage and Temperature Invariant Voltage Reference Circuit
Ist Teil von
  • 2013 26th International Conference on VLSI Design and 2013 12th International Conference on Embedded Systems, 2013, p.136-141
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
2013
Quelle
IEEE Xplore
Beschreibungen/Notizen
  • This paper presents a novel process, voltage and temperature (PVT) invariant voltage reference generator using subthreshold MOSFETS. The proposed circuit uses weighted average of PTAT and CTAT voltages at zero temperature co-efficient point. The proposed circuit has been designed and optimized in 180nm mixed-mode CMOS technology. Simulation results show that the output voltage of the proposed voltage reference generator varies by only ± 0.85% across process corners and temperature range of 0°C to 100°C. Temperature and power supply sensitivity of the reference voltage is 135ppm/°C and 0.54%/V, respectively. The proposed circuit consumes only 19 nW DC power and operates at supply voltages as low as 600 mV.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 146734639X, 9781467346399
ISSN: 1063-9667
eISSN: 2380-6923
DOI: 10.1109/VLSID.2013.177
Titel-ID: cdi_ieee_primary_6472628

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