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2011 International Electron Devices Meeting, 2011, p.20.4.1-20.4.4
2011

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Platform for JFET-based sensing of RF MEMS resonators in CMOS technology
Ist Teil von
  • 2011 International Electron Devices Meeting, 2011, p.20.4.1-20.4.4
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
2011
Link zum Volltext
Quelle
IEEE Xplore (IEEE/IET Electronic Library - IEL)
Beschreibungen/Notizen
  • This paper presents an RF MEMS resonator with embedded junction field effect transistor (JFET) for efficient electrical detection of the high quality factor acoustic resonance. A homogenous single-crystal silicon resonator is excited in its fundamental thickness extensional resonant mode at 1.61 GHz with a quality factor of 25,900. This device can be fully integrated into a typical SOI CMOS technology with minimal modifications to the existing front-end process. Furthermore, it achieves an acoustic transconductance of 171 μS at a bias current of 143 μA, approaching a practical range for monolithic, low-power RF systems.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 1457705060, 9781457705069
ISSN: 0163-1918
eISSN: 2156-017X
DOI: 10.1109/IEDM.2011.6131591
Titel-ID: cdi_ieee_primary_6131591

Weiterführende Literatur

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