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Compendium of TID and SEE test results for various candidate spacecraft electronics
Ist Teil von
2011 12th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2011, p.863-870
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
2011
Quelle
IEEE Electronic Library (IEL)
Beschreibungen/Notizen
We present data on the vulnerability of various candidate spacecraft electronics to total ionizing dose and heavy ion induced single event effects. Most of the tested devices are commercial integrated circuits, including Memories, Analog-to-Digital Converters and others.