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A simple linear technique for measuring the carrier-envelope offset phase of ultrashort pulses
Ist Teil von
CLEO: 2011 - Laser Science to Photonic Applications, 2011, p.1-2
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
2011
Quelle
IEEE Xplore
Beschreibungen/Notizen
A spectrally resolved multiple beam interferometer is capable for measuring the carrier envelope offset phase of ultrashort laser pulses with an accuracy of 70 mrad. The performance has been cross-calibrated with a conventional f-to-2f interferometer.