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Heavy ion and proton induced single event transients in comparators
IEEE transactions on nuclear science, 1996-12, Vol.43 (6), p.2960-2967
1996

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Heavy ion and proton induced single event transients in comparators
Ist Teil von
  • IEEE transactions on nuclear science, 1996-12, Vol.43 (6), p.2960-2967
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
1996
Link zum Volltext
Quelle
IEEE/IET Electronic Library (IEL)
Beschreibungen/Notizen
  • This paper presents a display of heavy-ion- and proton-induced single event transients for three comparators. The transient vital signs are serious: low LET threshold, very high voltage amplitude and extended pulse duration (microsecs.).
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0018-9499
eISSN: 1558-1578
DOI: 10.1109/23.556892
Titel-ID: cdi_ieee_primary_556892
Format
–
Schlagworte
Capacitors, Circuit testing, Cyclotrons, Displays, Laboratories, Propulsion, Protons, Satellites, Threshold voltage, Transient response

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