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International Electron Devices Meeting. Technical Digest, 1996, p.143-146
1996
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
A continuous compact MOSFET model for SOI with automatic transitions between fully and partially depleted device behavior
Ist Teil von
  • International Electron Devices Meeting. Technical Digest, 1996, p.143-146
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
1996
Quelle
IEEE Xplore
Beschreibungen/Notizen
  • A fully continuous compact SOI model for circuit simulations, that automatically accounts for the correct body depletion condition, is presented. Unlike previously reported models that are derived for either fully-depleted (FD) or partially-depleted (PD) devices, the model described here accounts for the possible transitions between FD and PD behavior during the device operation.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 0780333934, 9780780333932
ISSN: 0163-1918
eISSN: 2156-017X
DOI: 10.1109/IEDM.1996.553141
Titel-ID: cdi_ieee_primary_553141

Weiterführende Literatur

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