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German Microwave Conference Digest of Papers, 2010, p.28-31
2010

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Integrated active sensors for chip-level near-field scanning
Ist Teil von
  • German Microwave Conference Digest of Papers, 2010, p.28-31
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
2010
Link zum Volltext
Quelle
IEEE/IET Electronic Library
Beschreibungen/Notizen
  • Integrated active sensors for near-field scanning of printed circuit boards (PCB) as well as large scale integrated (LSI) circuits are presented in this paper. A miniature square loop and a miniature dipole are designed and monolithically integrated with two wideband differential amplifiers with a gain of about 28 dB and 22 dB respectively and a bandwidth of about 10 GHz. On-wafer measurement results of the integrated active sensors are presented.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 1424449332, 9781424449330
ISSN: 2167-8022
eISSN: 2167-8030
Titel-ID: cdi_ieee_primary_5498247

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