Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Ergebnis 7 von 138
2009 11th Electronics Packaging Technology Conference, 2009, p.486-493
2009

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
2N Au wire bonding for ultra fine picth BGA
Ist Teil von
  • 2009 11th Electronics Packaging Technology Conference, 2009, p.486-493
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
2009
Link zum Volltext
Quelle
IEEE/IET Electronic Library (IEL)
Beschreibungen/Notizen
  • In summary, 2N wire is able to improve thermal aging performance of ultra fine pitch wire bonding to meet reliability requirement as stringent as for automotive application. However, to improve mass production friendliness, careful characterization and process optimization need to be done on several areas, namely bonding surface condition, wire bonding process, as well as wire manufacturing process.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 1424450993, 9781424450992
DOI: 10.1109/EPTC.2009.5416499
Titel-ID: cdi_ieee_primary_5416499

Weiterführende Literatur

Empfehlungen zum selben Thema automatisch vorgeschlagen von bX