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2008 International Semiconductor Conference, 2008, Vol.2, p.309-312
2008
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Complete analytical submicron MOS transistor model for analogue applications
Ist Teil von
  • 2008 International Semiconductor Conference, 2008, Vol.2, p.309-312
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
2008
Quelle
IEEE Electronic Library Online
Beschreibungen/Notizen
  • A compact analytical model of nanoscale MOS transistors which takes into account the effects of velocity saturation and channel length modulation is proven. Equations for the transfer and output characteristics and for the dynamic analogue parameters (transconductance and output resistance) are obtained, in the case of pMOS, as well as nMOS transistors. Experimental transfer and output characteristics of short channel devices match well with calculated curves based on the model, for different transistor geometries. A very good agreement of the new model with the experimental data for transconductance and output resistance is also obtained.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 1424420040, 9781424420049
ISSN: 1545-827X
eISSN: 2377-0678
DOI: 10.1109/SMICND.2008.4703411
Titel-ID: cdi_ieee_primary_4703411

Weiterführende Literatur

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