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2006 8th International Conference on Actual Problems of Electronic Instrument Engineering, 2006, p.269-269
2006
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Examination of Dimer Formation on Si(OOl) by Monte Carlo Simulation
Ist Teil von
  • 2006 8th International Conference on Actual Problems of Electronic Instrument Engineering, 2006, p.269-269
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
2006
Quelle
IEEE Electronic Library Online
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 5778206623, 9785778206625
DOI: 10.1109/APEIE.2006.4292472
Titel-ID: cdi_ieee_primary_4292472

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