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Proceedings of the Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting, 2005, 2005, p.216-219
2005
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
On the optimization of lateral pnp BJTs found in BiCMOS process technologies
Ist Teil von
  • Proceedings of the Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting, 2005, 2005, p.216-219
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
2005
Quelle
IEEE Xplore
Beschreibungen/Notizen
  • We present a comprehensive investigation aimed at optimizing the performance of lateral pnp BJTs found in BiCMOS technologies to a level suitable for analog, IF/RF circuit applications. Alternative base profiles, LDD implantations conditions, and device geometries are quantitatively assessed, as well as the path of adapting low-voltage (LV) pMOS vs. high-voltage (HV) pMOS device design points for viable lateral pnp BJTs. The resultant dc, ac and low-frequency noise characteristics are addressed.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISBN: 9780780393097, 0780393090
ISSN: 1088-9299
eISSN: 2378-590X
DOI: 10.1109/BIPOL.2005.1555235
Titel-ID: cdi_ieee_primary_1555235

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