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On the optimization of lateral pnp BJTs found in BiCMOS process technologies
Ist Teil von
Proceedings of the Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting, 2005, 2005, p.216-219
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
2005
Quelle
IEEE Xplore
Beschreibungen/Notizen
We present a comprehensive investigation aimed at optimizing the performance of lateral pnp BJTs found in BiCMOS technologies to a level suitable for analog, IF/RF circuit applications. Alternative base profiles, LDD implantations conditions, and device geometries are quantitatively assessed, as well as the path of adapting low-voltage (LV) pMOS vs. high-voltage (HV) pMOS device design points for viable lateral pnp BJTs. The resultant dc, ac and low-frequency noise characteristics are addressed.