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2005 International Symposium on Computational Intelligence in Robotics and Automation, 2005, p.105-110
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
2005
Quelle
IEEE Electronic Library (IEL)
Beschreibungen/Notizen
The aim of this article is to give an experimental analysis of the physical phenomena at a microscopic scale. In particular, this article presents experimental measurements based on an AFM system. These experiments show the influence of the contact forces and distance forces especially for micromanipulation applications.