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IEEE photonics technology letters, 1992-01, Vol.4 (1), p.105-107
1992
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Simultaneous thickness and group index measurement using optical low-coherence reflectometry
Ist Teil von
  • IEEE photonics technology letters, 1992-01, Vol.4 (1), p.105-107
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
1992
Quelle
IEEE Xplore
Beschreibungen/Notizen
  • Using high-resolution optical reflectometry, group index and physical thickness can both be determined by precisely measuring optical time delays through a sample. Optical low-coherence reflectometry offers both the high-spatial resolution and large dynamic range required to perform accurate measurements using this technique.< >
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1041-1135
eISSN: 1941-0174
DOI: 10.1109/68.124892
Titel-ID: cdi_ieee_primary_124892

Weiterführende Literatur

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