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Characterization and analysis of electrical traps related effects on the reliability of AlGaN/GaN HEMTs
Solid-state electronics, 2012
2012

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Characterization and analysis of electrical traps related effects on the reliability of AlGaN/GaN HEMTs
Ist Teil von
  • Solid-state electronics, 2012
Ort / Verlag
Elsevier
Erscheinungsjahr
2012
Link zum Volltext
Quelle
Elsevier ScienceDirect Journals
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0038-1101
eISSN: 1879-2405
Titel-ID: cdi_hal_primary_oai_HAL_hal_02936070v1
Format
–
Schlagworte
Engineering Sciences

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