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Optical method for long-term and large-scale monitoring of spatial biofilm development
Biotechnology and bioengineering, 2006-07, Vol.94 (4), p.773-782
Milferstedt, K.
Pons, M.-N.
Morgenroth, E.
2006
Volltextzugriff (PDF)
Details
Autor(en) / Beteiligte
Milferstedt, K.
Pons, M.-N.
Morgenroth, E.
Titel
Optical method for long-term and large-scale monitoring of spatial biofilm development
Ist Teil von
Biotechnology and bioengineering, 2006-07, Vol.94 (4), p.773-782
Ort / Verlag
Hoboken: Wiley Subscription Services, Inc., A Wiley Company
Erscheinungsjahr
2006
Quelle
Wiley Blackwell Single Titles
Beschreibungen/Notizen
A method was developed that allows biofilm monitoring on the square centimeter scale over extended periods of time. The method is based on image acquisition using a desktop scanner and subsequent image analysis. It was shown that results from grey level analysis are highly correlated with physical properties of the biofilm like average biomass and biofilm thickness. The scanner method was applied to monitor overall biofilm growth, detachment, and surface roughness during two 3 and 4 week long experiments. Two significantly different growth dynamics during the biofilm development could be identified, depending on the biofilm history. Surface roughness on transects in flow direction was always higher than on transects perpendicular to the flow, reflecting the anisotropic characteristics of biofilms growing in a flow field. © 2006 Wiley Periodicals, Inc.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0006-3592
eISSN: 1097-0290
DOI: 10.1002/bit.20893
Titel-ID: cdi_hal_primary_oai_HAL_hal_00284113v1
Format
–
Schlagworte
Bacteria - growth & development
,
Bacteria - isolation & purification
,
biofilm development
,
biofilm monitoring
,
Biofilms
,
Biofilms - growth & development
,
Biological and medical sciences
,
Biomass
,
Bioreactors
,
Biotechnology
,
Chemical and Process Engineering
,
Engineering Sciences
,
Environmental Monitoring - methods
,
Equipment Design
,
Fundamental and applied biological sciences. Psychology
,
image analysis
,
Kinetics
,
roughness
,
scanner
,
Scanners
,
Surface roughness
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