Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Ergebnis 16 von 102

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Plausible Physical Mechanisms for Unusual Volatile/Non- Volatile Resistive Switching in HfO2-Based Stacks
Ist Teil von
  • Condensed matter, 2021-03, Vol.6 (1), p.7
Ort / Verlag
Basel: MDPI AG
Erscheinungsjahr
2021
Link zum Volltext
Quelle
EZB Free E-Journals
Beschreibungen/Notizen
  • Memristive devices made of silicon compatible simple oxides are of great interest for storage and logic devices in future adaptable electronics and non-digital computing applications. A series of highly desirable properties observed in an atomic-layer-deposited hafnia-based stack, triggered our interest to investigate their suitability for technological implementations. In this paper, we report our attempts to reproduce the observed behaviour within the framework of a proposed underlying mechanism. The inability of achieving the electrical response of the original batch indicates that a key aspect in those devices has remained undetected. By comparing newly made devices with the original ones, we gather some clues on the plausible alternative mechanisms that could give rise to comparable electrical behaviours.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 2410-3896
eISSN: 2410-3896
DOI: 10.3390/condmat6010007
Titel-ID: cdi_doaj_primary_oai_doaj_org_article_b762ad7c0f97440cbe777be03ea5b504

Weiterführende Literatur

Empfehlungen zum selben Thema automatisch vorgeschlagen von bX