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Penetration of a Mg:Ag alloy electrode thermal deposited on an organic thin film
Ist Teil von
Japanese Journal of Applied Physics, 2019-03, Vol.58 (3), p.38006
Ort / Verlag
Tokyo: IOP Publishing
Erscheinungsjahr
2019
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Beschreibungen/Notizen
We investigated penetration of a thermally deposited MgAg alloy electrode to an amorphous organic under-layer using transmission electron microscopy and energy dispersive X-ray spectroscopy of the cross section near the organic/metal interface. Migration of Mg to the organic under-layer was observed. The amount of migrated Mg showed exponential decay with the depth from the interface. The decay constant, i.e. penetration depth of Mg, was approximately 2 nm.