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Advanced materials research, 2012, Vol.433-440, p.4120-4123
2012

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Research on Noise Simulation of Infrared Detector
Ist Teil von
  • Advanced materials research, 2012, Vol.433-440, p.4120-4123
Ort / Verlag
Trans Tech Publications Ltd
Erscheinungsjahr
2012
Link zum Volltext
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Beschreibungen/Notizen
  • Noises of infrared detector have an important influence on sensitivity of infrared imaging system, and it affect the imaging quality and performance of infrared system. Research on noises of infrared detector is a challenging topic in designing, simulating and evaluating of infrared imaging system. All kinds of noises are studied in detail, and mathematical models are built. The method of simulating noises of detector is proposed, and noises are simulated based on the mathematical model.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1022-6680, 1662-8985
eISSN: 1662-8985
DOI: 10.4028/www.scientific.net/AMR.433-440.4120
Titel-ID: cdi_crossref_primary_10_4028_www_scientific_net_AMR_433_440_4120
Format

Weiterführende Literatur

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